Manuelles Sondensystem mit Nadeln für die Prüfung von Halbleitern auf Siliziumwafern. Selektiver Fokus.
RFID:Bild-ID:2B39AK3
Bilddetails
Bildanbieter:
Anatoly Morozov / Alamy Stock FotoBild-ID:
2B39AK3Dateigröße:
28 MB (512,8 KB Komprimierter Download)Freigaben (Releases):
Model - nein | Eigentum - neinBenötige ich eine Freigabe?Format:
3832 x 2555 px | 32,4 x 21,6 cm | 12,8 x 8,5 inches | 300dpiAufnahmedatum:
12. Dezember 2019Weitere Informationen: