Manuelles Sondensystem mit Nadeln für die Prüfung von Halbleitern auf Siliziumwafern. Selektiver Fokus.

Manuelles Sondensystem mit Nadeln für die Prüfung von Halbleitern auf Siliziumwafern. Selektiver Fokus. Stockfoto
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Anatoly Morozov / Alamy Stock Foto

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2B39AK3

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Freigaben (Releases):

Model - nein | Eigentum - neinBenötige ich eine Freigabe?

Format:

3832 x 2555 px | 32,4 x 21,6 cm | 12,8 x 8,5 inches | 300dpi

Aufnahmedatum:

12. Dezember 2019

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