Manuelles Sondensystem mit Nadeln für die Prüfung von Halbleitern auf Siliziumwafern. Selektiver Fokus.

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Anatoly Morozov / Alamy Stock Foto

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2B39AB8

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Format:

3486 x 2324 px | 29,5 x 19,7 cm | 11,6 x 7,7 inches | 300dpi

Aufnahmedatum:

12. Dezember 2019

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