Manuelles Sondensystem mit Nadeln für die Prüfung von Halbleitern auf Siliziumwafern. Selektiver Fokus.

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Anatoly Morozov / Alamy Stock Foto

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2B39ABD

Dateigröße:

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Freigaben (Releases):

Model - nein | Eigentum - neinBenötige ich eine Freigabe?

Format:

4199 x 2799 px | 35,6 x 23,7 cm | 14 x 9,3 inches | 300dpi

Aufnahmedatum:

12. Dezember 2019

Weitere Informationen:

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