Überprüfung von Mikrochips auf Siliziumwafern mit Sondenstation und Mikroskop.Mikroelektrik.

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• Format: 2754 x 4130 px | 23,3 x 35 cm | 9,2 x 13,8 inches | 300dpi
• Aufnahmedatum: 21. November 2018

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Checking microchips on silicon wafer with probe station.Close up . Semiconductor Crystal Manufacturing.

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