SHANGHAI, CHINA - 8. NOVEMBER 2023 - Intel auf der sechsten CIIE-Ausstellung von Wafer Defect Intelligent Detection Storage Equipment Digital Upgrade Scheme, N

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4000 x 2667 px | 33,9 x 22,6 cm | 13,3 x 8,9 inches | 300dpi

Aufnahmedatum:

11. November 2023

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