Silizium-Wafer mit Halbleiter-Mikrochip auf Maschine Prozess Prüfung im Mikroskop.

Silizium-Wafer mit Halbleiter-Mikrochip auf Maschine Prozess Prüfung im Mikroskop. Stockfoto
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Anatoly Morozov / Alamy Stock Foto

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2B39FMT

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Freigaben (Releases):

Model - nein | Eigentum - neinBenötige ich eine Freigabe?

Format:

5184 x 3456 px | 43,9 x 29,3 cm | 17,3 x 11,5 inches | 300dpi

Aufnahmedatum:

13. Februar 2020

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