Nahaufnahme der Untersuchung einer Probe von Mikrochip-Transistor mit Sondenstation unter dem Mikroskop im Labor.EIN Halbleiter auf einem Siliziumwafer

Nahaufnahme der Untersuchung einer Probe von Mikrochip-Transistor mit Sondenstation unter dem Mikroskop im Labor.EIN Halbleiter auf einem Siliziumwafer Stockfoto
Vorschau

Bilddetails

Bildanbieter:

Anatoly Morozov / Alamy Stock Foto

Bild-ID:

2B39AK2

Dateigröße:

22,8 MB (464,2 KB Komprimierter Download)

Freigaben (Releases):

Model - nein | Eigentum - neinBenötige ich eine Freigabe?

Format:

3456 x 2304 px | 29,3 x 19,5 cm | 11,5 x 7,7 inches | 300dpi

Aufnahmedatum:

12. Dezember 2019

Weitere Informationen: