Fehleranalyse: Untersuchung der Ursache von Fehlern in mikroelektronischen Geräten zur Verbesserung der Produktzuverlässigkeit

• Bildanbieter: Wladimir Bulgar / Alamy Stock Foto
• Bild-ID: 2RNN2P8
• Dateigröße: 120,6 MB (741,5 KB Komprimierter Download)
• Freigaben (Releases): Model - nein | Eigentum - nein
• Format: 8658 x 4870 px | 73,3 x 41,2 cm | 28,9 x 16,2 inches | 300dpi
• Aufnahmedatum: 16. Juli 2023

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